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ProxiVision社のオープンMCP(マイクロチャンネルプレート)システム

マイクロチャンネルプレート、2 次元検出

ProxiVision社のオープンMCP(マイクロチャンネルプレート)システム

近接型MCP(マイクロチャンネルプレート)イメージインテンシファイアを製造するProxiVision社では、フレキシブルにお使い頂けるオープンMCPシステムを提供しています。
このシステムでは、電子・イオン・X 線・UVの2次元検出が可能。特に、10eV〜1000eV領域(約120〜1nm)の検出に適しています。
25mm/40mm MCPそれぞれに2タイプの標準モデルがラインナップされている上、用途に合わせたカスタム品の制作も可能です。

構造

- OD (Open Detector System) タイプ : OD25・OD40 -

オープンディテクタータイプのOD25、OD40は、真空窓として使用できる様、CF フランジにマウントされた構造になっています。

- DD (Dismountable Detector System) タイプ:DD25・DD40 -

ディスマウンタブルタイプのDD25、DD40は、高真空中で使用できます。発光スクリーンとMCPの固定部は、それぞれ取り外せるよう設計されています。

共通仕様

MCP段数 1 ・ 2・ 3 (選択可)
解像度 P43 / P46 / P47 (選択可)
スクリーン基盤 透明ガラス/ FOP (選択可)
真空側マウント部材 ガラス・金属・セラミック製
耐熱温度 ODタイプ: 最高100℃
DDタイプ: 最高350℃
   (耐UHVベーキング)
帯電防止ITO層 NESAコート

カスタム・オプション

  • アレイ型ダイオード上へのテーパーカップリング
  • シンチレータースクリーン上へのAl 反射防止膜コーティング
  • 非磁性MCP
  • 金メッキアノード
  • CsI、KBr コーティング
  • センターホール付きMCP

検出効率

MCP段数 エネルギー/波長 検出効率
電 子 100eV〜500eV
500eV〜4keV
4keV〜100eV
10%〜50%
50%〜75%〜50%
50%〜10%
イオン 500eV〜3keV
3keV〜10keV
10keV〜50keV
50keV〜200keV
5%〜40%
40%〜70%
70%〜80%〜70%
70%〜40%
軟X線・UV 0.2nm〜30nm
30nm〜115nm
115nm〜150nm
3%〜16%
16%〜8%
8%〜2%